華測(cè)儀器 半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測(cè)定儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn),是一款簡(jiǎn)單易用的材料表征儀器，可以同時(shí)測(cè)定樣品在RT至1500℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率，該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性和多功能集成等特點(diǎn)，主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測(cè)試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.寬溫區(qū)覆蓋與適應(yīng)性
支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測(cè)試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評(píng)估。
2.多功能集成
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍 1～2500μV/K ，準(zhǔn)確度達(dá) ±7% ，重復(fù)性 ±3% ，準(zhǔn)確捕捉微弱熱電效應(yīng)；
電導(dǎo)率測(cè)量范圍覆蓋 0.01～2×10^5S/cm ，準(zhǔn)確度 ±5～8% ，支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類材料電阻率分析；
采用靜態(tài)直流法（塞貝克系數(shù)）與四端法（電阻率），確保測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠。
3.兼容性與操作便捷性
支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復(fù)雜形狀試樣；
可調(diào)探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結(jié)構(gòu)，保障樣品接觸穩(wěn)定性，減少測(cè)量誤差；
電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應(yīng)對(duì)不同溫區(qū)與材料特性。
4.穩(wěn)定性與長(zhǎng)周期測(cè)試能力
電源輸出 0～1A ，具備長(zhǎng)期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)采集；
配備K/S/C型熱電偶，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。