塞貝克系數電阻測試儀 熱材料研發

產品特點

1.文本編輯

2.重復測量可少的輸入參數

3.實時測量分析

4.測量曲線比較:多達32條曲線

5.曲線扣除

6.曲線放大縮小

7.一階/二階求導

8.多重峰分析

9.樣品溫度多點校正

10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)

11.焓變多點校正

12.熱流Cp測量

13.評估結果保存及導出

14.ASCII數據導入與導出

15.數據生成到MS Excel

16.信號控制測量測序

產品優勢

1.寬溫區覆蓋與適應性

支持RT至1500℃寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；

提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。

2. 多功能集成

塞貝克系數電阻測試儀塞貝克系數測量范圍1～2500μV/K，±7%，重復性±3%，準確捕捉微弱熱電效應；

電導率測量范圍覆蓋0.01～2×10^5S/cm±5～8%，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；

采用靜態直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），確保測量結果穩定可靠。

3. 靈活兼容性與操作便捷性

支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；

可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；

電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。

4. 穩定性與長周期測試能力

電源輸出0～1A，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集；

配備K/S/C型熱電偶，實現溫度監控與閉環控制。

參數規格

1.溫度范圍:RT~800/1100/1500℃

2.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法

3.氣氛:惰性、氧化、還原、真空

4.樣品支架:三明治結構夾與兩電極之間

5.樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm

6.樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm

7.可調探頭距離:4、6、8mm

8.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K±7%;重復性±3%

9.電導率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm±5-8%;再現性±3%

10.電源:0~ 1A，具長期穩定性

11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)

12.熱電偶:K/S/C型

應用領域

01.熱電材料開發與性能優化

測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優值)評估材料在高溫(如1500°C)或特定環境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率

02.能源材料與器件研究

鋰離子電池電極材料、因態電解質的電阻率與界面接觸特性分析燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試

03.電子與功能材料表征

半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定

04.工業材料質量控制與工藝優化

合金、陶瓷、碳材料的熱-電協同性能檢測，指導燒結工藝參數調整高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空、惰性氣氛)下的電學行為評估

05.科研與標準化測試

高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究依據國際標準(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認證測試