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華測儀器 封裝材料塞貝克系數電阻測定儀的產品參數及特點
日期：2025-10-18 11:40
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摘要：
華測儀器 封裝材料塞貝克系數電阻測定儀的產品參數及特點
產品簡介
半導體塞貝克系數電阻測試儀由華測儀器生產,是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性和多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
產品參數
01.溫度范圍:RT~800/1100/1500℃
02.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結構夾與兩電極之間
05.樣品尺寸...
華測儀器 封裝材料塞貝克系數電阻測定儀的產品參數及特點
產品簡介
半導體塞貝克系數電阻測試儀由華測儀器生產,是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性和多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
產品參數
01.溫度范圍:RT~800/1100/1500℃
02.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結構夾與兩電極之間
05.樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm
06.樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm
07.可調探頭距離:4、6、8mm
08.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
09.電導率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm準確度±5-8%;再現性±3%
10.電源:0~ 1A，具長期穩定性
11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型
產品特點
01.文本編輯
02.重復測量可少的輸入參數
03.實時測量分析
04.測量曲線比較:多達32條曲線
05.曲線扣除
06.曲線放大縮小
07.一階/二階求導
08.多重峰分析
09.樣品溫度多點校正
10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓變多點校正
12.熱流Cp測量
13.評估結果保存及導出
14.ASCII數據導入與導出
15.數據生成到MS Excel
16.信號控制測量測序
