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華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量?jī)x的基礎(chǔ)參數(shù)與應(yīng)用
華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量?jī)x的基礎(chǔ)參數(shù)與應(yīng)用
華測(cè)儀器研發(fā)的熱釋電系數(shù)測(cè)量?jī)x,憑借科學(xué)的參數(shù)設(shè)計(jì)與廣泛的應(yīng)用適配,成為材料性能測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)用設(shè)備,為科研與生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供有力支持。
一、基礎(chǔ)參數(shù):為測(cè)試提供穩(wěn)定保障
在核心參數(shù)設(shè)計(jì)上,華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量?jī)x考慮不同測(cè)試場(chǎng)景需求,各項(xiàng)指標(biāo)兼顧實(shí)用性。測(cè)量溫度范圍覆蓋室溫至 600℃,可滿足常溫到高溫環(huán)境下的材料測(cè)試需求,適配多種材料在不同溫度條件下的性能分析。電極面積設(shè)定為 100mm2,符合多數(shù)常見測(cè)試樣品的電極適配規(guī)格,減少樣品制備過(guò)程中的規(guī)格。
控溫方面,升溫斜率與降溫斜率均可在 1~5℃/min 區(qū)間內(nèi)調(diào)節(jié),操作人員可根據(jù)測(cè)試材料特性與實(shí)驗(yàn)要求,靈活設(shè)定溫度變化速率,保障測(cè)試過(guò)程中溫度變化的可控性。積分電容選用 10uF,搭配電壓采集靈敏度 0.1mV、200V 電壓量程的設(shè)計(jì),能捕捉測(cè)試過(guò)程中的電壓變化,為熱釋電系數(shù)計(jì)算提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)支撐。同時(shí),電壓采集輸入阻抗達(dá) 1×1012Ω,記錄儀誤差低于 1%,進(jìn)一步保障數(shù)據(jù)采集與記錄環(huán)節(jié)的可靠性。
在設(shè)備尺寸與重量上,儀器規(guī)格為 (550×480×500) mm,重量約 10KG,整體結(jié)構(gòu)緊湊,占用空間較小,便于在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)車間內(nèi)放置與移動(dòng),提升場(chǎng)地利用效率。
二、應(yīng)用領(lǐng)域:覆蓋多類材料性能測(cè)試
依托完善的參數(shù)設(shè)計(jì),華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量?jī)x可在多個(gè)領(lǐng)域應(yīng)用,可對(duì)不同類型材料及器件的性能進(jìn)行評(píng)價(jià)與測(cè)試。
在鐵電材料測(cè)試中,儀器能通過(guò)分析材料熱釋電系數(shù)隨溫度、時(shí)間變化的曲線,助力研究人員了解鐵電材料在不同條件下的極化特性與熱釋電性能,為鐵電材料的研發(fā)、改良提供數(shù)據(jù)依據(jù),推動(dòng)鐵電材料在儲(chǔ)能、傳感等領(lǐng)域的應(yīng)用發(fā)展。
針對(duì)壓電材料,包括壓電陶瓷與高分子壓電材料,儀器可實(shí)現(xiàn)對(duì)其熱釋電系數(shù)的測(cè)試,同時(shí)能完成壓電陶瓷居里溫度的測(cè)試。通過(guò)獲取材料在不同溫度下的性能變化數(shù)據(jù),幫助研發(fā)與生產(chǎn)人員掌握材料特性,優(yōu)化材料制備工藝,保障壓電材料在傳感器、換能器等器件制造中的性能穩(wěn)定性。
此外,該儀器對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求,圓片、方塊、長(zhǎng)條、柱形等各類形狀的樣品均可測(cè)量,進(jìn)一步拓展了應(yīng)用范圍。在相關(guān)器件性能測(cè)試中,可對(duì)采用鐵電、壓電材料制作的器件進(jìn)行性能評(píng)估,驗(yàn)證器件在實(shí)際使用場(chǎng)景中的表現(xiàn),為器件質(zhì)量檢測(cè)與性能優(yōu)化提供支持,助力提升相關(guān)器件的產(chǎn)品質(zhì)量與使用可靠性。
