華測儀器高溫介電溫譜測試儀的參數(shù)與應(yīng)用

 絕緣材料高溫介電性能測試儀由華測儀器生產(chǎn)，電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時間和保持時間及自然降溫到室溫所需時間，在試驗中也可改寫設(shè)定溫度值，節(jié)省試驗時間并提高實驗速度。同高頻爐相比，無特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單，有降溫系統(tǒng)安心可靠。以提高試驗人員的工作效率，實現(xiàn)新的溫度控制操作。

產(chǎn)品優(yōu)勢

溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍；

采用新的特殊參數(shù)分析技術(shù),實現(xiàn)了達(dá)120MHz的測量；

取消不規(guī)則輸入的自動平均值功能，實現(xiàn)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部障蔽；

測試引線使用4端子對配置以擴(kuò)展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計兩層障蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量；

產(chǎn)品參數(shù)

模式選擇：根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式

測量方式：軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜

溫度設(shè)置：可設(shè)置升溫速度、降溫速度、溫度上限、測量等待時間等

測量參數(shù)：ε介電常數(shù)、（ε'、ε''介電常數(shù)實部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實部與虛部）、Y導(dǎo)納、Y’、Y''（導(dǎo)納實部與虛部）、X電抗、Q品質(zhì)因數(shù)、cole-cole圖譜、機電耦合系數(shù)Kp、等

測量頻率：軟件可設(shè)置測試的頻率

數(shù)據(jù)處理：測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式

溫度范圍：RT-800 (上限1650)°C

控溫精度：±0.25℃

升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）

測試頻率：10Hz~120MHz

加熱方式：近紅外加熱

降溫方式：水冷

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：鉑金

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：介電溫譜、頻譜

數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口

設(shè)備尺寸：600×500×350mm